Organizada por la Asociación Innovalia con el apoyo de Innovalia Metrology, Metromeet, Conferencia Europea dedicada a la Metrología Industrial Dimensional, reunirá en el Palacio Euskalduna de Bilbao durante los días 25 y 26 de febrero de 2010 a las empresas y organismos más representativos del panorama metrológico actual, como por ejemplo la NASA, el NIST, Innovalia Metrology, SEAT, BMW, Renishaw y Mitutoyo, entre otros.
La conferencia contará también con la presencia de expertos internacionales que impartirán los dos tutoriales, 20 presentaciones y 4 keynotes que conforman el Programa de la 6ª edición. Con el objetivo de dar cobertura a todos los aspectos de la metrología, las presentaciones se dividirán en varios apartados de diversas temáticas: Metrología Óptica, Soluciones Metrológicas, Metrología Industrial, Calibración y Verificación, Nano y Micrometrología y Software Metrológico.
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