El pasado 30 de octubre tuvo lugar en Bilbao una reunión del Comité Técnico de Metromeet, Conferencia Internacional sobre Metrología Industrial Dimensional, en la que se puso de manifiesto la gran satisfacción de los asistentes en la pasada edición, no sólo por la calidad de las presentaciones, sino también por la profesionalidad de los ponentes que participaron en la misma.
En la citada reunión, y tras dar por finalizado el plazo de recepción de ponencias para la tercera edición de la Conferencia, el Comité técnico se encuentra en fase de preparación del programa definitivo para la edición de 2007, para la que se prevé la asistencia del Dr. Oltmann Riemer, de la Universidad de Bremen, así como de representantes de importantes empresas del sector como Daimler Chrysler, Caterpillar, Trimek, OGP, Phoenix-Xray, Unimetrik, Renishaw, Zeiss, Volkswagen, Datapixel y Kotem.
Tras la evaluación de todas las ponencias recibidas, el Comité Técnico tiene previsto lanzar el programa definitivo de la 3ª edición el próximo mes de enero.
Asimismo, cabe destacar también el interés que la próxima edición de la conferencia ha suscitado en empresas procedentes tanto de Europa y EEUU como del continente asiático para participar como expositores.
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