AMDPress.-El Comité Técnico de Metromeet 2007, tercera edición de la Conferencia Internacional sobre Metrología Industrial Dimensional que tendrá lugar en el Palacio de Congresos y de la Música de Bilbao los días 8 y 9 de marzo de 2007, ha lanzado ya su Convocatoria para la presentación de ponencias.
En esta edición, el Comité Técnico ha decidido ampliar la temática de la Conferencia incluyendo dos nuevos temas: la Acreditación y la Certificación en el ámbito metrológico y la Formación Académica en Metrología. La ponencias presentadas serán seleccionadas por dicho Comité y el resultado se hará oficial durante el mes de enero.
La Asociación Innovalia, organizadora del evento, invita tanto a investigadores como a
expertos en metrología industrial a compartir sus experiencias en alguno de los temas propuestos. Los profesionales interesados pueden incluir un resumen de sus ponencias, antes del 9 de octubre, en la web: www.metromeet.org/castellano/convocatoria_es.html
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